x-선 회절analysis(분석) 기본 원리 [XRF기본원리]
페이지 정보
작성일 23-01-25 22:26
본문
Download : x-선 회절분석 기본 원리 [XRF기.hwp
첫째 X-선관의 target에 부딪힌 전자들의 연속적인 감속과정에서 그들의 kinetic energy가 photon energy로 전환됨에 의해 생기는 것으로 continuous spectrum을 나타낸다.
X-선은 빛과 마찬가지로 보이지 않으며 직진성을 가지고 불투명한 물질에 마주향하여 도 침투력을 나타내어 여러 분야에 유용하다. 특히, 불투명한 물체의 내부구조가 미세구조 연구에 주로 이용되어진다.
다.
공업원료로 쓰이는 대부분의 고체들은 3차원적으로 규칙적인 원자배열을 갖는 결정을 이루고 있으며 이들 원자들은 X-선에 대해 3차원적 회절격자로 작용하게 된다. 결정체에 입사된 X-선은 결정내의 원자와의 상호작용에 의해 모든 방향으로 산란되나 입사 beam과 위상이 일치되는 산란광만이 특정방향으로 보강을 일으켜 회절 beam이 발생되며(즉, 회절 X-선의 방향은 결정내의 각 원자에서 부터 산란 X-선의 위상이 일치하는 방향) 이것은 아래의 Bragg 조건을 만족할 때만 일어날 수 있다.
또한 여러가지 constituent 이 혼합된 혼합물에서도 각각 물질 나름의 독립적인 회절패턴을 나타내므로 식별이 가능하며 혼합물 중의 각 constituent 의 量과 회절 X-선의 강도 사이에는 일정한 상관관계가 있으므로 이러한 회절패턴을 이용한 정량분석도 가능하다.
결정체에 입사된 X-선은 결정내의 원자와의 상호작용에 의해 모든 방향으로 산란되나 입사 beam과 위상이 일치되는 산란광만이 특정방향으로 보강을 일으켜 회절 beam이 발생되며(즉, 회절 X-선의 방향은 결정내의 각 원자에서 부터 산란 X-선의 위상이 일치하는 방향) 이것은 아래의 Bragg 조건을 만족할 때만 일어날 수 있따
순수한 결정질 물질에 조사되는 X-선에 의해서 생기는 회절패턴은 그 물질의 구조에 관한 정보를 갖는다.
1-1. X-선의 성질
공업원료로 쓰이는 대부분의 고체들은 3차원적으로 규칙적인 원자배열을 갖는 결정을 이루고 있으며 이들 원자들은 X-선에 대해 3차원적 회절격자로 작용하게 된다.
둘째 target 물질 자체에 Cause 이 있어 생기는 것으로서 characteristic line 이라 하며 target 물질의 종류에 따라 그것이 나타나는 파장과 강도가 다르며 K excitation voltage라 불리는 특정 voltage 이상에서 발생되고 K, L, M․․․line 으로 구분된다
x-선 회절analysis(분석) 기본 원리 [XRF기본원리]
Download : x-선 회절분석 기본 원리 [XRF기.hwp( 99 )
x-선 회절분석 기본 원리,XRF기본원리
앞의 그림에서 CDF의 길이가 nλ가 되어야만 입사광과 산란광이 in phase되어 보강 간섭에 의한 회절 beam이 나온다는 것이 그 원리이다.
레포트 > 자연과학계열
설명
이렇게 해서 나타나는 property(특성)회절 패턴에 의해서 이미 알고 있는 회절패턴과 비교하는 방법으로 結晶構造와 相을 판별하게 된다
순서
X-선은 두 가지 서로 다른 Cause 에 의해 발생될 수 있다.
記錄紙上에서 최대 회절 peak의 위치와 그 intensity를 찾아 비교해 보면 물질은 항상 그 물질의 고유한 회절패턴을 가지고 있음을 알 수 있다.
